更新時(shí)間:2010-04-23
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高 低 溫 試 驗(yàn) 箱
適用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、
低溫、或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
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